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文献
J-GLOBAL ID：201702271720280099
整理番号：17A1697368
原子間力顕微鏡と表面増強Raman散乱の組み合わせによる反応性表面に対する高速高分解能スクリーニング法
Fast High-Resolution Screening Method for Reactive Surfaces by Combining Atomic Force Microscopy and Surface-Enhanced Raman Scattering
VAN HOORN Camiel H.
(VU Univ., Amsterdam, NLD)
,
WESSELS Carlos
(VU Univ., Amsterdam, NLD)
,
ARIESE Freek
(VU Univ., Amsterdam, NLD)
,
MANK Arjan J.G.
(Philips Lighting, Eindhoven, NLD)
資料名：
Applied Spectroscopy
(Applied Spectroscopy)
巻： 71 号： 7 ページ： 1551-1559 発行年： 2017年07月
JST資料番号： A0429A ISSN： 0003-7028 CODEN： APSPA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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