文献
J-GLOBAL ID:201702271747171737
整理番号:17A1729665
DC-DCコンバータの長期電磁適合性のための統計的解析【Powered by NICT】
Statistical analysis for the long-term electromagnetic compatibility of a DC-DC converter
著者 (3件):
Huang H.
(Department of Electronics and Telecommunications, Politecnico di Torino, Turin, Italy)
,
Boyer A.
(CNRS, LAAS, 7 avenue du colonel Roche, F-31400, Toulouse, France, Univ. de Toulouse, INSA, LAAS, F-31400 Toulouse, France)
,
Ben Dhia S.
(CNRS, LAAS, 7 avenue du colonel Roche, F-31400, Toulouse, France, Univ. de Toulouse, INSA, LAAS, F-31400 Toulouse, France)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
EMC Europe
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)