文献
J-GLOBAL ID:201702271938960504
整理番号:17A1652510
AH電池試験のためのDC電子負荷【Powered by NICT】
DC electronics load for AH battery testing
著者 (2件):
Lawsri Kornkamon
(Department of Electrical engineering, King’s Mongkut University of Technology Thonburi Bangkok, Thailand)
,
Po-Ngam Sakorn
(Department of Electrical engineering King’s Mongkut University of Technology Thonburi Bangkok, Thailand)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
iEECON
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)