文献
J-GLOBAL ID:201702272053641363
整理番号:17A0795920
並列SiC MOSFETの電力モジュール内の交差ターンについてのシミュレーションと特性評価【Powered by NICT】
Simulation and Characterization of Cross-Turn-On Inside a Power Module of Paralleled SiC MOSFETs
著者 (3件):
Miao Zichen
(Center for Power Electronics Systems, Virginia Tech, VA, USA)
,
Wang Chi-Ming
(Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, MI, USA)
,
Ngo Khai D. T.
(Center for Power Electronics Systems, Virginia Tech, VA, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology
(IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology)
巻:
7
号:
2
ページ:
186-192
発行年:
2017年
JST資料番号:
W0590B
ISSN:
2156-3950
CODEN:
ITCPC8
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)