文献
J-GLOBAL ID:201702272404553212
整理番号:17A1355046
試験データのための次元縮小法【Powered by NICT】
A dimensionality-reduction method for test data
著者 (2件):
Denguir Mohamed
(Friedrich-Alexander-University Erlangen-Nuremberg (FAU) Chair of Reliable Circuits and Systems (LZS) Erlangen, Germany)
,
Sattler Sebastian M.
(Friedrich-Alexander-University Erlangen-Nuremberg (FAU) Chair of Reliable Circuits and Systems (LZS) Erlangen, Germany)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IMSTW
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)