文献
J-GLOBAL ID:201702272741151670
整理番号:17A0214241
自己加熱ナノスケール素子の局所温度測定【Powered by NICT】
Local thermometry of self-heated nanoscale devices
著者 (8件):
Menges F.
(IBM Research - Zurich, Switzerland)
,
Motzfeld F.
(IBM Research - Zurich, Switzerland)
,
Schmid H.
(IBM Research - Zurich, Switzerland)
,
Mensch P.
(IBM Research - Zurich, Switzerland)
,
Dittberner M.
(IBM Research - Zurich, Switzerland)
,
Karg S.
(IBM Research - Zurich, Switzerland)
,
Riel H.
(IBM Research - Zurich, Switzerland)
,
Gotsmann B.
(IBM Research - Zurich, Switzerland)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
IEDM
ページ:
15.8.1-15.8.4
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)