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文献
J-GLOBAL ID：201702273024150232
整理番号：17A0400540
自己組織化マップネットワークと大津アルゴリズムを用いたTSV欠陥のX線検査【Powered by NICT】
X-ray inspection of TSV defects with self-organizing map network and Otsu algorithm
Shen Junjie
(State Key Laboratory of Digital Manufacturing Equipment and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China)
,
Chen Pengfei
(State Key Laboratory of Digital Manufacturing Equipment and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China)
,
Su Lei
(Jiangsu Key Laboratory of Advanced Food Manufacturing Equipment & Technology, Jiangnan University, Wuxi 214122, China)
,
Shi Tielin
(State Key Laboratory of Digital Manufacturing Equipment and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China)
,
Tang Zirong
(State Key Laboratory of Digital Manufacturing Equipment and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China)
,
Liao Guanglan
(State Key Laboratory of Digital Manufacturing Equipment and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 67 ページ： 129-134 発行年： 2016年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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