文献
J-GLOBAL ID:201702273390206874
整理番号:17A1645526
故障同定バッチプロセスのための改善されたカーネル指数判別分析【Powered by NICT】
An improved kernel exponential discriminant analysis for fault identification of batch process
著者 (4件):
Wang Ruixuan
(College of Information Science and Technology, Beijing University of Chemical Technology, Beijing 100029)
,
Wang Jing
(College of Information Science and Technology, Beijing University of Chemical Technology, Beijing 100029)
,
Zhou Jinglin
(College of Information Science and Technology, Beijing University of Chemical Technology, Beijing 100029)
,
Wu Haiyan
(College of Information Science and Technology, Beijing University of Chemical Technology, Beijing 100029)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
DDCLS
ページ:
16-21
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)