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文献
J-GLOBAL ID：201702273444204077
整理番号：17A0344480
SEMMoireによる電気破壊後の薄い導電性金属ワイヤの残留歪測定【Powered by NICT】
The Residual Strain Measurement of Thin Conductive Metal Wire after Electrical Failure with SEMMoire
Li Yanjie
(AML, Department of Engineering Mechanics, Tsinghua University)
,
Xie Huimin
(AML, Department of Engineering Mechanics, Tsinghua University)
,
Wang Qinghua
(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)
,
Zhou Mengmeng
(AML, Department of Engineering Mechanics, Tsinghua University)
,
Xu Manqiong
(AML, Department of Engineering Mechanics, Tsinghua University)
,
Luo Qiang
(Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences)
,
Gu Changzhi
(Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences)
資料名：
Acta Mechanica Solida Sinica
(Acta Mechanica Solida Sinica)
巻： 29 号： 4 ページ： 371-378 発行年： 2016年
JST資料番号： C2556A ISSN： 0894-9166 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： ドイツ (DEU) 言語： 英語 (EN)
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