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文献
J-GLOBAL ID:201702273916312566   整理番号:17A0964613

大信号駆動下でのXパラメータ測定を用いたアバランシェ領域におけるSiGeH BTの時間領域遺伝子座の研究【Powered by NICT】

Investigation of Time-Domain Locus of SiGe HBTs in the Avalanche Region by Using the X-Parameter Measurement Under Large-Signal Drive
著者 (3件):
Lee Chie-In
(Department of Electrical Engineering, National Sun Yat-sen University, Kaohsiung, Taiwan)
Lin Yan-Ting
(Department of Electrical Engineering, National Sun Yat-sen University, Kaohsiung, Taiwan)
Lin Wei-Cheng
(Department of Electrical Engineering, National Sun Yat-sen University, Kaohsiung, Taiwan)

資料名:
IEEE Microwave and Wireless Components Letters  (IEEE Microwave and Wireless Components Letters)

巻: 27  号:ページ: 464-466  発行年: 2017年 
JST資料番号: W0099A  ISSN: 1531-1309  CODEN: IMWCBJ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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