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文献
J-GLOBAL ID：201702274659208764
整理番号：17A1637458
CDM ESD保護のためのTCADとVFTLPによるDTSCRの比較研究【Powered by NICT】
A comparison study of DTSCR by TCAD and VFTLP for CDM ESD protection
Wang Chenkun
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Riverside, USA)
,
Zhang Feilong
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Riverside, USA)
,
Lu Fei
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Riverside, USA)
,
Chen Qi
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Riverside, USA)
,
Li Cheng
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Riverside, USA)
,
Zhao Meng
(Semiconductor Manufacturing International Corporation, Shanghai, China)
,
Gu Huihui
(Semiconductor Manufacturing International Corporation, Shanghai, China)
,
Feng Guangtao
(Semiconductor Manufacturing International Corporation, Shanghai, China)
,
Wu Hongying
(Semiconductor Manufacturing International Corporation, Shanghai, China)
,
Tang Tianshen
(Semiconductor Manufacturing International Corporation, Shanghai, China)
,
Cheng Yuhua
(Shanghai Research Institute of Microelectronics, Peking University, Shanghai, China)
,
Wang Albert
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Riverside, USA)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： IPFA ページ： 1-4 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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