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文献
J-GLOBAL ID：201702274687079020
整理番号：17A1001605
低および高LET電離放射線は寛解前に2週間持続する遅延性相同組換えを誘発する
Low- and High-LET Ionizing Radiation Induces Delayed Homologous Recombination that Persists for Two Weeks before Resolving
ALLEN Christopher P.
(Colorado State Univ., Colorado)
,
HIRAKAWA Hirokazu
(National Inst. Radiological Sci., Chiba, JPN)
,
NAKAJIMA Nakako Izumi
(National Inst. Radiological Sci., Chiba, JPN)
,
MOORE Sophia
(Colorado State Univ., Colorado)
,
NIE Jingyi
(Colorado State Univ., Colorado)
,
SHARMA Neelam
(Colorado State Univ., Colorado)
,
SUGIURA Mayumi
(Nara Women’s Univ., Nara, JPN)
,
HOKI Yuko
(National Inst. Radiological Sci., Chiba, JPN)
,
ARAKI Ryoko
(National Inst. Radiological Sci., Chiba, JPN)
,
ABE Masumi
(National Inst. Radiological Sci., Chiba, JPN)
,
OKAYASU Ryuichi
(National Inst. Radiological Sci., Chiba, JPN)
,
FUJIMORI Akira
(National Inst. Radiological Sci., Chiba, JPN)
,
NICKOLOFF Jac A.
(Colorado State Univ., Colorado)
資料名：
Radiation Research
(Radiation Research)
巻： 188 号： 1 ページ： 82-93 発行年： 2017年07月
JST資料番号： D0484A ISSN： 0033-7587 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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