文献
J-GLOBAL ID:201702275386871483
整理番号:17A1354462
nチャネル16nm UTBOX素子の静特性および低周波雑音特性【Powered by NICT】
Static and low frequency noise characterization of n-channel 16 nm UTBOX devices
著者 (5件):
Nafaa B.
(University of Carthage, INSAT, MMA, Tunis, Tunisia)
,
Ismail N.
(University of Carthage, INSAT, MMA, Tunis, Tunisia)
,
Touayar O.
(University of Carthage, INSAT, MMA, Tunis, Tunisia)
,
Cretu B.
(Normandie University, UNICAEN, ENSICAEN, CNRS, GREYC, Caen, France)
,
Simoen E.
(Imec, Kapeldreef, Leuven, Belgium)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IDT
ページ:
14-18
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)