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文献
J-GLOBAL ID：201702275943240555
整理番号：17A1727266
回復効果とその回路設計に対する統一老化モデル【Powered by NICT】
A unified aging model with recovery effect and its impact on circuit design
Lee Wai-Kit
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, 168, Park Ave 2, Hsin-Chu Science Park, Hsin-Chu County, Taiwan 308-44, R.O.C)
,
Huang Kasa
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, 168, Park Ave 2, Hsin-Chu Science Park, Hsin-Chu County, Taiwan 308-44, R.O.C)
,
Hsu Li Chung
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, 168, Park Ave 2, Hsin-Chu Science Park, Hsin-Chu County, Taiwan 308-44, R.O.C)
,
Huang Clement
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, 168, Park Ave 2, Hsin-Chu Science Park, Hsin-Chu County, Taiwan 308-44, R.O.C)
,
Liang Jim
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, 168, Park Ave 2, Hsin-Chu Science Park, Hsin-Chu County, Taiwan 308-44, R.O.C)
,
Chen Julian
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, 168, Park Ave 2, Hsin-Chu Science Park, Hsin-Chu County, Taiwan 308-44, R.O.C)
,
Hsiao Cheng
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, 168, Park Ave 2, Hsin-Chu Science Park, Hsin-Chu County, Taiwan 308-44, R.O.C)
,
Su Ke-Wei
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, 168, Park Ave 2, Hsin-Chu Science Park, Hsin-Chu County, Taiwan 308-44, R.O.C)
,
Lin Chung-Kai
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, 168, Park Ave 2, Hsin-Chu Science Park, Hsin-Chu County, Taiwan 308-44, R.O.C)
,
Jeng Min-Chie
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, 168, Park Ave 2, Hsin-Chu Science Park, Hsin-Chu County, Taiwan 308-44, R.O.C)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： SISPAD ページ： 93-96 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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