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文献
J-GLOBAL ID：201702276228010076
整理番号：17A0590508
その場チップ処理段を持つ低温走査トンネル顕微鏡の改善した設計
Improved design for a low temperature scanning tunneling microscope with an in situ tip treatment stage
Kim J.-J.
(Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea)
,
Joo S. H.
(Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea)
,
Lee K. S.
(Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea)
,
Yoo J. H.
(Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea)
,
Park M. S.
(Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea)
,
Kwak J. S.
(Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea)
,
Lee Jinho
(Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 88 号： 4 ページ： 043702-043702-7 発行年： 2017年04月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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