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文献
J-GLOBAL ID:201702276459252315   整理番号:17A0400535

封止におけるシリコーンミクロスフェアを用いた発光ダイオードの信頼性向上【Powered by NICT】

Enhancement of light-emitting diode reliability using silicone microsphere in encapsulant
著者 (5件):
Jang Inseok
(Lighting Sources & Materials Research Center, Korea Photonics Technology Institute, Buk-gu, Gwangju, 500-779, Republic of Korea)
Kim Wan-Ho
(Lighting Sources & Materials Research Center, Korea Photonics Technology Institute, Buk-gu, Gwangju, 500-779, Republic of Korea)
Jeon Sie-Wook
(Lighting Sources & Materials Research Center, Korea Photonics Technology Institute, Buk-gu, Gwangju, 500-779, Republic of Korea)
Kim Hyeon
(Lighting Sources & Materials Research Center, Korea Photonics Technology Institute, Buk-gu, Gwangju, 500-779, Republic of Korea)
Kim Jae-Pil
(Lighting Sources & Materials Research Center, Korea Photonics Technology Institute, Buk-gu, Gwangju, 500-779, Republic of Korea)

資料名:
Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)

巻: 67  ページ: 94-98  発行年: 2016年 
JST資料番号: C0530A  ISSN: 0026-2714  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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