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文献
J-GLOBAL ID：201702276459252315
整理番号：17A0400535
封止におけるシリコーンミクロスフェアを用いた発光ダイオードの信頼性向上【Powered by NICT】
Enhancement of light-emitting diode reliability using silicone microsphere in encapsulant
Jang Inseok
(Lighting Sources & Materials Research Center, Korea Photonics Technology Institute, Buk-gu, Gwangju, 500-779, Republic of Korea)
,
Kim Wan-Ho
(Lighting Sources & Materials Research Center, Korea Photonics Technology Institute, Buk-gu, Gwangju, 500-779, Republic of Korea)
,
Jeon Sie-Wook
(Lighting Sources & Materials Research Center, Korea Photonics Technology Institute, Buk-gu, Gwangju, 500-779, Republic of Korea)
,
Kim Hyeon
(Lighting Sources & Materials Research Center, Korea Photonics Technology Institute, Buk-gu, Gwangju, 500-779, Republic of Korea)
,
Kim Jae-Pil
(Lighting Sources & Materials Research Center, Korea Photonics Technology Institute, Buk-gu, Gwangju, 500-779, Republic of Korea)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 67 ページ： 94-98 発行年： 2016年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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