文献
J-GLOBAL ID:201702276517023194
整理番号:17A1544905
DDR2SDRAMの列ハンマーパターン解析【Powered by NICT】
A row hammer pattern analysis of DDR2 SDRAM
著者 (3件):
Versen M.
(University of Applied Sciences Rosenheim, Rosenheim, Germany)
,
Ernst W.
(Siemens AG, Amberg, Germany)
,
Gulati P.
(University of Applied Sciences Rosenheim, Rosenheim, Germany)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
76-77
ページ:
64-67
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)