文献
J-GLOBAL ID:201702276652728918
整理番号:17A0400933
薄膜太陽電池における電流誘起と光誘起巨視的変化:デバイス劣化機構【Powered by NICT】
Current-induced and light-induced macroscopic changes in thin film solar cells: Device degradation mechanism
著者 (5件):
Kim Ka-Hyun
(KIER-UNIST Advanced Center for Energy, Korea Institute of Energy Research, 44919 Ulsan, South Korea)
,
Kim Ka-Hyun
(LPICM, CNRS, Ecole Polytechnique, Universite Paris-Saclay, 91128 Palaiseau, France)
,
Kim Ka-Hyun
(TOTAL New Energies, 92069 Paris, France)
,
Johnson Erik V.
(LPICM, CNRS, Ecole Polytechnique, Universite Paris-Saclay, 91128 Palaiseau, France)
,
Roca i Cabarrocas Pere
(LPICM, CNRS, Ecole Polytechnique, Universite Paris-Saclay, 91128 Palaiseau, France)
資料名:
Solar Energy
(Solar Energy)
巻:
143
ページ:
86-92
発行年:
2017年
JST資料番号:
E0099A
ISSN:
0038-092X
CODEN:
SRENA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)