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文献
J-GLOBAL ID：201702276918855732
整理番号：17A0090021
180nm CMOSプロセスを用いたテラヘルツ検出器の設計と評価
Design and fabrication of terahertz detectors based on 180 nm CMOS process technology
脇田幸典
(北大 量子集積エレクトロニクス研究セ)
,
池辺将之
(北大)
,
ARNOLD Stevanus
(東北大 電通研)
,
尾辻泰一
(東北大 電通研)
,
瀧田佑馬
(理研)
,
南出泰亜
(理研)
,
佐野栄一
(北大 量子集積エレクトロニクス研究セ)
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 116 号： 375(ED2016 80-95) ページ： 17-22 発行年： 2016年12月12日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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