文献
J-GLOBAL ID:201702278000338795
整理番号:17A1276748
数値的および実験的研究による衝撃環境におけるMEMSの信頼性研究【Powered by NICT】
MEMS reliability study in shock environments through numerical and experimental investigations
著者 (8件):
Lehee Guillaume
(Safran Tech, SAFRAN, Rue des Jeunes Bois, 78772 Magny-Les-Hameaux, France)
,
Calvar-Mimica Ariane
(Safran Tech, SAFRAN, Rue des Jeunes Bois, 78772 Magny-Les-Hameaux, France)
,
Chantrait Teddy
(Safran Tech, SAFRAN, Rue des Jeunes Bois, 78772 Magny-Les-Hameaux, France)
,
Charles Alexandre
(Safran Tech, SAFRAN, Rue des Jeunes Bois, 78772 Magny-Les-Hameaux, France)
,
Jeanroy Alain
(Safran Electronics & Defense, 21 Avenue du Gros Che^ne, 95610 Eragny, France)
,
Onfroy Philippe
(Safran Electronics & Defense, 21 Avenue du Gros Che^ne, 95610 Eragny, France)
,
Colin Mikael
(CEA, leti, MINATEC Campus, F-38054 Grenoble, France)
,
Berthelot Audrey
(CEA, leti, MINATEC Campus, F-38054 Grenoble, France)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
TRANSDUCERS
ページ:
520-523
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)