文献
J-GLOBAL ID:201702278134571511
整理番号:17A0114387
誘電体の帯電効果を考慮したイオンの挙動の数値解析【Powered by NICT】
Numerical analysis of ion behavior considering charging effect of a dielectric body
著者 (4件):
Yamamoto Takeshi
(Osaka University, Department of Adaptive Machine System, Osaka, Japan)
,
Matsuzawa Shuhei
(Osaka University, Department of Adaptive Machine System, Osaka, Japan)
,
Ota Tomohiro
(Panasonic Corporation, Product Analysis Center, Osaka, Japan)
,
Hirata Katsuhiro
(Osaka University, Department of Adaptive Machine System, Osaka, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
CEFC
ページ:
1
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)