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文献
J-GLOBAL ID：201702278329238674
整理番号：17A0885905
各種チャネル形状におけるマイクロチャネルプレートの利得と時間特性【Powered by NICT】
The Gain and Time Characteristics of Microchannel Plates in Various Channel Geometries
Chen Lin
(Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China)
,
Wang Xingchao
(North Night Vision Technology Company, Ltd., Nanjing, China)
,
Tian Jinshou
(Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China)
,
Zhao Tianchi
(Chinese Academy of Sciences, Institute of High Energy Physics, Beijing, China)
,
Liu Chunliang
(Xi’an Jiaotong University, Xi’an, China)
,
Liu Hulin
(Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China)
,
Wei Yonglin
(Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China)
,
Sai Xiaofeng
(Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China)
,
Wang Xing
(Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China)
,
Sun Jianning
(North Night Vision Technology Company, Ltd., Nanjing, China)
,
Si Shuguang
(North Night Vision Technology Company, Ltd., Nanjing, China)
,
Chen Ping
(Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China)
,
Tian Liping
(Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China)
,
Hui Dandan
(Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China)
,
Guo Lehui
(Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China)
資料名：
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 64 号： 4 ページ： 1080-1086 発行年： 2017年
JST資料番号： C0235A ISSN： 0018-9499 CODEN： IETNAE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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