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文献
J-GLOBAL ID：201702278685041999
整理番号：17A1033509
ナノチューブに基づくFETの電荷トラップのアドミタンス分光法【Powered by NICT】
Admittance spectroscopy of charge traps of FET based on nanotubes
Ilchenko V.
(Institute of High Technology, National University of Kyiv, Kyiv, Ukraine)
,
Vasyliev I.
(Institute of High Technology, National University of Kyiv, Kyiv, Ukraine)
,
Derenskyi V.
(Zernike Institute for Advanced Materials, University of Groningen, Groningen, The Netherlands)
,
Gerasymenko M.
(Zernike Institute for Advanced Materials, University of Groningen, Groningen, The Netherlands)
,
Loi M. A.
(Zernike Institute for Advanced Materials, University of Groningen, Groningen, The Netherlands)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： ELNANO ページ： 198-200 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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