文献
J-GLOBAL ID:201702279048330194
整理番号:17A1725783
ARPキャッシュ中毒に関する調査と検出と緩和のための技術【Powered by NICT】
A survey on ARP cache poisoning and techniques for detection and mitigation
著者 (3件):
Meghana Jitta Sai
(Department of Electronics Engineering, Madras Institute of Technology, Anna University, Chennai, India)
,
Subashri T.
(Department of Electronics Engineering, Madras Institute of Technology, Anna University, Chennai, India)
,
Vimal K.R.
(Department of Electronics Engineering, Madras Institute of Technology, Anna University, Chennai, India)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICSCN
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)