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文献
J-GLOBAL ID：201702279850669864
整理番号：17A1544981
短絡下での信頼性を制限するIGBTにおける容量効果【Powered by NICT】
Capacitive effects in IGBTs limiting their reliability under short circuit
Reigosa P.D.
(Centre of Reliable Power Electronics (CORPE), Department of Energy Technology, Aalborg University, Pontoppidanstraede 111, 9220 Aalborg, Denmark)
,
Iannuzzo F.
(Centre of Reliable Power Electronics (CORPE), Department of Energy Technology, Aalborg University, Pontoppidanstraede 111, 9220 Aalborg, Denmark)
,
Rahimo M.
(ABB Switzerland Ltd. Semiconductors, CH-5600 Lenzburg, Switzerland)
,
Blaabjerg F.
(Centre of Reliable Power Electronics (CORPE), Department of Energy Technology, Aalborg University, Pontoppidanstraede 111, 9220 Aalborg, Denmark)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 76-77 ページ： 485-489 発行年： 2017年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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