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文献
J-GLOBAL ID：201702280060345189
整理番号：17A0953289
マイクロプラズマとその静電効果を利用した微粒子除去に関する基礎検討
Basic study of fine particle removal using microplasma and its electrostatic effect
SHIMIZU Kazuo
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
ITO Akihiko
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
BLAJAN Marius
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
KRISTOF Jaroslav
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
YONEDA Hitoki
(Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 56 号： 1S ページ： 01AC03.1-01AC03.6 発行年： 2017年01月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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