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文献
J-GLOBAL ID：201702280307534962
整理番号：17A0962194
磁気ナノドットアレイを測定するための走査型近傍場円偏光光学顕微鏡
Scanning Near Field Circular Polarization Optical Microscope for Measuring Magnetic Nanodot Arrays
JIN Tao
(Univ. Shanghai for Sci. and Technol., Shanghai, CHN)
,
SHEN Lu
(Univ. Shanghai for Sci. and Technol., Shanghai, CHN)
,
HOSAKA Sumio
(Gunma Univ., Kiryu, JPN)
,
YIN You
(Gunma Univ., Kiryu, JPN)
,
MIURA Takeshi
(UNISOKU Co., Ltd., Osaka, JPN)
,
HOU Wenmei
(Univ. Shanghai for Sci. and Technol., Shanghai, CHN)
資料名：
Science of Advanced Materials
(Science of Advanced Materials)
巻： 9 号： 1 ページ： 151-155 発行年： 2017年01月
JST資料番号： W2374A ISSN： 1947-2935 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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