文献
J-GLOBAL ID:201702280423133005
整理番号:17A0666975
サンプル値系のL_∞=L_2Hankelノルム【Powered by NICT】
The L∞=L2 Hankel norm of sampled-data systems
著者 (3件):
Hagiwara Tomomichi
(Department of Electrical Engineering, Kyoto University, Nishikyo-ku, 615-8510, Japan)
,
Inai Akira
(Department of Electrical Engineering, Kyoto University, Nishikyo-ku, 615-8510, Japan)
,
Kim Jung Hoon
(Center for Robotics Research, Korea Institute of Science and Technology (KIST), 5, Hwarang-ro 14-gil, Seongbuk-gu, Seoul, 136-791, Republic of Korea)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
CDC
ページ:
4009-4014
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)