文献
J-GLOBAL ID:201702280543575856
整理番号:17A0830535
SiC MOSFETモジュールの短絡となだれ耐久信頼性評価について【Powered by NICT】
On the short-circuit and avalanche ruggedness reliability assessment of SiC MOSFET modules
著者 (4件):
Ionita Claudiu
(Aalborg University, 9000 Aalborg, Denmark)
,
Ionita Claudiu
(ABB Corporate Research, Forskargraend 7, SE-721 78 Vaesteras, Sweden)
,
Nawaz Muhammad
(ABB Corporate Research, Forskargraend 7, SE-721 78 Vaesteras, Sweden)
,
Ilves Kalle
(ABB Corporate Research, Forskargraend 7, SE-721 78 Vaesteras, Sweden)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
71
ページ:
6-16
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)