文献
J-GLOBAL ID:201702280942596793
整理番号:17A0400595
と非サブサンプリングシャーレット変換エンベロープグレーレベル勾配を用いた磁気タイル画像における亀裂検出【Powered by NICT】
Crack detection in magnetic tile images using nonsubsampled shearlet transform and envelope gray level gradient
著者 (4件):
Yang Chengli
(School of Manufacturing Science and Engineering, Sichuan University, Chengdu 610065, PR China)
,
Liu Peiyong
(School of Manufacturing Science and Engineering, Sichuan University, Chengdu 610065, PR China)
,
Yin Guofu
(School of Manufacturing Science and Engineering, Sichuan University, Chengdu 610065, PR China)
,
Wang Ling
(School of Manufacturing Science and Engineering, Sichuan University, Chengdu 610065, PR China)
資料名:
Optics & Laser Technology
(Optics & Laser Technology)
巻:
90
ページ:
7-17
発行年:
2017年
JST資料番号:
D0245B
ISSN:
0030-3992
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)