文献
J-GLOBAL ID:201702281056871840
整理番号:17A1392052
Paley-革新の有限度サンプリングのためのカーネルのWiener特性化【Powered by NICT】
Paley-Wiener Characterization of Kernels for Finite-Rate-of-Innovation Sampling
著者 (2件):
Mulleti Satish
(Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Science, Bangalore, India)
,
Seelamantula Chandra Sekhar
(Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Science, Bangalore, India)
資料名:
IEEE Transactions on Signal Processing
(IEEE Transactions on Signal Processing)
巻:
65
号:
22
ページ:
5860-5872
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0228A
ISSN:
1053-587X
CODEN:
ITPRED
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)