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J-GLOBAL ID:201702281377340262   整理番号:17A0965738

高品質不動態化を用いたテクスチャードシリコン基板上に真性水素化非晶質シリコン(a Si:H)薄膜の研究【Powered by NICT】

Investigation of intrinsic hydrogenated amorphous silicon (a-Si:H) thin films on textured silicon substrate with high quality passivation
著者 (5件):
Min-Lun Yu
(Department of Energy Engineering, National Central University, Taoyuan, Taiwan (R.O.C.))
Yu-Lin Hsieh
(Department of Mechanical Engineering, National Central University, Taoyuan, Taiwan (R.O.C.))
Sheng-Kai Jou
(Department of Mechanical Engineering, National Central University, Taoyuan, Taiwan (R.O.C.))
Li Tomi T.
(Department of Mechanical Engineering, National Central University, Taoyuan, Taiwan (R.O.C.))
Chien-Chieh Lee
(Optical Science Center, National Central University, Taoyuan, Taiwan (R.O.C.))

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: CSTIC  ページ: 1-3  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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