文献
J-GLOBAL ID:201702281706048857
整理番号:17A1256338
動的記号実行における多数試験点の経路還元【Powered by NICT】
Path reduction of multiple test points in dynamic symbolic execution
著者 (3件):
Lu Jiawen
(School of Information Science & Engineering, East China University of Science and Technology, Shanghai, China)
,
Cai Lizhi
(School of Information Science & Engineering, East China University of Science and Technology, Shanghai, China)
,
Zhang Yang
(School of Information Science & Engineering, East China University of Science and Technology, Shanghai, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICIS
ページ:
857-863
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)