文献
J-GLOBAL ID:201702282043447617
整理番号:17A1421036
Ge TiO_2ナノ複合材料薄膜における結晶化温度とGe濃度の間の相関【Powered by NICT】
Correlation between crystallization temperature and Ge concentration in Ge-TiO2 nanocomposite thin films
著者 (1件):
Abe Seishi
(Research Institute for Electromagnetic Materials, 2-1-1 Yagiyama-minami, Sendai 982-0807, Japan)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
636
ページ:
183-187
発行年:
2017年
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)