文献
J-GLOBAL ID:201702282456937486
整理番号:17A1355476
温度の影響を考慮した直流dias磁束密度の下での鉄損モデル【Powered by NICT】
Iron loss model under DC dias flux density considering temperature influence
著者 (8件):
Xue S.
(Department of Electronic and Electrical Engineering, University of Sheffield, United Kingdom)
,
Feng J.
(CRRC Zhuzhou Institute Co. Ltd., Zhuzhou, China)
,
Guo S.
(CRRC Zhuzhou Institute Co. Ltd., Zhuzhou, China)
,
Chen Z.
(CRRC Zhuzhou Institute Co. Ltd., Zhuzhou, China)
,
Peng J.
(CRRC Zhuzhou Institute Co. Ltd., Zhuzhou, China)
,
Chu W.
(CRRC Zhuzhou Institute Co. Ltd., Zhuzhou, China)
,
Huang L.
(Department of Electronic and Electrical Engineering, University of Sheffield, United Kingdom)
,
Zhu Z.Q.
(Department of Electronic and Electrical Engineering, University of Sheffield, United Kingdom)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
INTERMAG
ページ:
1-2
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)