文献
J-GLOBAL ID:201702283166125544
整理番号:17A1917101
応力効果のセミパラメトリックモデリングを用いた加速寿命試験【Powered by NICT】
Accelerated Life Testing With Semiparametric Modeling of Stress Effects
著者 (2件):
Si Wujun
(Department of Industrial and Systems Engineering, Wayne State University, Detroit, MI, USA)
,
Yang Qingyu
(Department of Industrial and Systems Engineering, Wayne State University, Detroit, MI, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Reliability
(IEEE Transactions on Reliability)
巻:
66
号:
4
ページ:
989-996
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0448A
ISSN:
0018-9529
CODEN:
IERQAD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)