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文献
J-GLOBAL ID：201702283232286012
整理番号：17A1076066 ラウエ型湾曲結晶分光器による高感度XAFS
Approach to Highly Sensitive XAFS by Means of Bent Crystal Laue Analyzers
脇坂祐輝
(北海道大学触媒科学研究所)
, 岩崎裕也
(北海道大学触媒科学研究所)
, 上原広充
(北海道大学触媒科学研究所)
, 向井慎吾
(北海道大学触媒科学研究所)
, 城戸大貴
(北海道大学触媒科学研究所)
, 高草木達
(北海道大学触媒科学研究所)
, 上村洋平
(自然科学研究機構分子科学研究所)
, 和田敬広
(東京医科歯科大学大学院医歯学総合研究科)
, YUAN Qiuyi
(北海道大学触媒科学研究所)
, 関澤央輝
(電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター)
, 宇留賀朋哉
(電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター)
, 宇留賀朋哉
(高輝度光科学研究センター)
, 岩澤康裕
(電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター)
, 朝倉清高
(北海道大学触媒科学研究所)
資料名：
表面科学
(JSSSJ)
巻： 38 号： 8 ページ： 378-383(J-STAGE) 発行年： 2017年
JST資料番号： F0940B ISSN： 0388-5321 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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