文献
J-GLOBAL ID:201702283289203370
整理番号:17A1646043
ICの近接場EMIスキャンとESD感受性の間の相関に関する研究【Powered by NICT】
A study on correlation between near-field EMI scan and ESD susceptibility of ICs
著者 (7件):
Hosseinbeig Ahmad
(EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO, 65401, USA)
,
Izadi Omid Hoseini
(EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO, 65401, USA)
,
Shinde Satyajeet
(EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO, 65401, USA)
,
Pommerenke David
(EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO, 65401, USA)
,
Shumiya Hideki
(Sony GM&O Corp., Tokyo, Japan)
,
Maeshima Junji
(Sony GM&O Corp., Tokyo, Japan)
,
Araki Kenji
(Sony GM&O Corp., Tokyo, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
EMCSI
ページ:
169-174
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)