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文献
J-GLOBAL ID：201702283316128248
整理番号：17A1420500
加重バギングGPRアルゴリズムを用いた有効寿命予測残存EMA【Powered by NICT】
EMA remaining useful life prediction with weighted bagging GPR algorithm
Zhang Yujie
(Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China)
,
Liu Datong
(Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China)
,
Yu Jinxiang
(Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China)
,
Peng Yu
(Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China)
,
Peng Xiyuan
(Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 75 ページ： 253-263 発行年： 2017年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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