文献
J-GLOBAL ID:201702283414785987
整理番号:17A0852339
漏洩磁束探傷における速度効果を考慮した任意の欠陥プロファイルの再構成のための正確なインバージョン【Powered by NICT】
Precise Inversion for the Reconstruction of Arbitrary Defect Profiles Considering Velocity Effect in Magnetic Flux Leakage Testing
著者 (4件):
Lu Senxiang
(School of Information Science and Engineering, Northeastern University, Shenyang, China)
,
Feng Jian
(School of Information Science and Engineering, Northeastern University, Shenyang, China)
,
Li Fangming
(School of Information Science and Engineering, Northeastern University, Shenyang, China)
,
Liu Jinhai
(School of Information Science and Engineering, Northeastern University, Shenyang, China)
資料名:
IEEE Transactions on Magnetics
(IEEE Transactions on Magnetics)
巻:
53
号:
4
ページ:
ROMBUNNO.6201012.1-12
発行年:
2017年
JST資料番号:
A0339B
ISSN:
0018-9464
CODEN:
IEMGAQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)