文献
J-GLOBAL ID:201702283450003833
整理番号:17A0117771
20nm三角形バルクFinFETに及ぼす温度の影響の解析【Powered by NICT】
Analysis of influence of temperature on 20nm triangular bulk FinFET
著者 (3件):
Singh Sarvesh
(ECE, Guru Nanak Dev Engineering College, Ludhiana, 141006)
,
Gill S. S.
(ECE, Guru Nanak Dev Engineering College, Ludhiana, 141006)
,
Kaur Navneet
(ECE, Guru Nanak Dev Engineering College, Ludhiana, 141006)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
RTEICT
ページ:
985-987
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)