文献
J-GLOBAL ID:201702283645130381
整理番号:17A1724689
コプライムサンプリングジッタ解析【Powered by NICT】
Co-prime sampling jitter analysis
著者 (2件):
Dias Usham V.
(Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology Delhi, New Delhi, India)
,
Srirangarajan Seshan
(Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology Delhi, New Delhi, India)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
EUSIPCO
ページ:
1140-1144
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)