文献
J-GLOBAL ID:201702284201548108
整理番号:17A1725744
90nm CMOSにおける注入同期3段単一および差動終端VCOに関連した可同調性と位相雑音の比較【Powered by NICT】
Comparison of tunability and phase noise associated with injection locked three staged single and differential ended VCOs in 90nm CMOS
著者 (3件):
Johnson Joshapath
(SSN College of Engineering, Chennai, India)
,
Ponnambalam Maran
(SSN College of Engineering, Chennai, India)
,
Chandramani Premanand Venkatesh
(SSN College of Engineering, Chennai, India)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICSCN
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)