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文献
J-GLOBAL ID:201702284201686610   整理番号:17A0400967

Ge_xAs_35 xSe_65薄膜の温度依存性光学モードの研究:構造特異的Raman,遠赤外及び光吸収分光法【Powered by NICT】

Investigation of temperature dependent optical modes in GexAs35-xSe65 thin films: Structure specific Raman, FIR and optical absorption spectroscopy
著者 (6件):
Khan Pritam
(Department of Physics, Indian Institute of Science Education and Research, Bhopal 462023, India)
Bhattacharya Arinjoy
(Department of Physics, Indian Institute of Science Education and Research, Bhopal 462023, India)
Joshy Abin
(Department of Physics, Indian Institute of Science Education and Research, Bhopal 462023, India)
Sathe Vasant
(UGC-DAE Consortium for Scientific Research, University Campus, Khandwa Road, Indore 452017, India)
Deshpande Uday
(UGC-DAE Consortium for Scientific Research, University Campus, Khandwa Road, Indore 452017, India)
Adarsh K.V.
(Department of Physics, Indian Institute of Science Education and Research, Bhopal 462023, India)

資料名:
Thin Solid Films  (Thin Solid Films)

巻: 621  ページ: 76-83  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0899A  ISSN: 0040-6090  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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