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文献
J-GLOBAL ID：201702284379687507
整理番号：17A1036212
自動車SRAMにおけるソフトエラー率とシングルイベントラッチアップに及ぼすボディバイアスの批判的再検討【Powered by NICT】
A critical re-examination of body-bias on the soft error rate and single-event latch-up in automotive SRAMs
Mahatme N. N.
(NXP Semiconductors, Austin, TX, 78735)
,
Min B.
(NXP Semiconductors, Austin, TX, 78735)
,
Loiko K.
(NXP Semiconductors, Austin, TX, 78735)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： IRPS ページ： 2E-2.1-2E-2.5 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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