文献
J-GLOBAL ID:201702284612399813
整理番号:17A1399244
走査レーザ顕微鏡法と原子間力顕微鏡からの画像のフラクタル解析相関【Powered by NICT】
Fractal analysis correlation of the images from scanning laser microscopy techniques and atomic force microscopy
著者 (4件):
Toma Antonela
(Center for Microscopy-Microanalysis and Information Processing, University Politehnica of Bucharest, 313 Splaiul Independentei, 060042, Romania)
,
Tranca Denis E.
(Center for Microscopy-Microanalysis and Information Processing, University Politehnica of Bucharest, 313 Splaiul Independentei, 060042, Romania)
,
Sammut Charles V.
(Department of Physics, Faculty of Science, University of Malta, MSD 2080 MSIDA, Malta)
,
Stanciu George A.
(Center for Microscopy-Microanalysis and Information Processing, University Politehnica of Bucharest, 313 Splaiul Independentei, 060042, Romania)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICTON
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)