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文献
J-GLOBAL ID：201702284876048382
整理番号：17A0113920
時間領域における現場計測の近傍での平面のための多重反射誤差解析【Powered by NICT】
Multiple reflection error analysis for planar near field measurement in time domain
Cao Meng
(EMC and Microwave System Lab, Beijing Institute of Technology, Beijing, P.R. China)
,
Xue Zhenghui
(EMC and Microwave System Lab, Beijing Institute of Technology, Beijing, P.R. China)
,
Ren Wu
(EMC and Microwave System Lab, Beijing Institute of Technology, Beijing, P.R. China)
,
Li Weiming
(EMC and Microwave System Lab, Beijing Institute of Technology, Beijing, P.R. China)
,
Zhu Ruoqing
(EMC and Microwave System Lab, Beijing Institute of Technology, Beijing, P.R. China)
,
Cai Hongwei
(EMC and Microwave System Lab, Beijing Institute of Technology, Beijing, P.R. China)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： CAMA ページ： 1-4 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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