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文献
J-GLOBAL ID：201702285051990628
整理番号：17A1387949
部分界面追跡法を用いた3次元粒burnback解析【Powered by NICT】
3D grain burnback analysis using the partial interface tracking method
Ki Wando
(The Graduate School, Department of Mechanical Engineering, Yonsei University, 50 Yonsei-ro, Seodaemun-gu, Seoul 03722, Republic of Korea)
,
Ko Taeho
(The Graduate School, Department of Mechanical Engineering, Yonsei University, 50 Yonsei-ro, Seodaemun-gu, Seoul 03722, Republic of Korea)
,
Kim Sangmin
(The Graduate School, Department of Mechanical Engineering, Yonsei University, 50 Yonsei-ro, Seodaemun-gu, Seoul 03722, Republic of Korea)
,
Yoon Woongsup
(Department of Mechanical Engineering, Yonsei University, 50 Yonsei-ro, Seodaemun-gu, Seoul 03722, Republic of Korea)
資料名：
Aerospace Science and Technology
(Aerospace Science and Technology)
巻： 68 ページ： 58-67 発行年： 2017年
JST資料番号： W1580A ISSN： 1270-9638 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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