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文献
J-GLOBAL ID：201702285071183758
整理番号：17A0439863
fs~psレーザ照射固体スズターゲットのイオン分布とアブレーション深さ測定
Ion distribution and ablation depth measurements of a fs-ps laser-irradiated solid tin target
Deuzeman M. J.
(Advanced Research Center for Nanolithography (ARCNL), Science Park 110, 1098 XG Amsterdam, The Netherlands)
,
Stodolna A. S.
(Advanced Research Center for Nanolithography (ARCNL), Science Park 110, 1098 XG Amsterdam, The Netherlands)
,
Leerssen E. E. B.
(Advanced Research Center for Nanolithography (ARCNL), Science Park 110, 1098 XG Amsterdam, The Netherlands)
,
Antoncecchi A.
(Advanced Research Center for Nanolithography (ARCNL), Science Park 110, 1098 XG Amsterdam, The Netherlands)
,
Spook N.
(Advanced Research Center for Nanolithography (ARCNL), Science Park 110, 1098 XG Amsterdam, The Netherlands)
,
Kleijntjens T.
(Advanced Research Center for Nanolithography (ARCNL), Science Park 110, 1098 XG Amsterdam, The Netherlands)
,
Versluis J.
(AMOLF, Science Park 104, 1098 XG Amsterdam, The Netherlands)
,
Witte S.
(Advanced Research Center for Nanolithography (ARCNL), Science Park 110, 1098 XG Amsterdam, The Netherlands)
,
Eikema K. S. E.
(Advanced Research Center for Nanolithography (ARCNL), Science Park 110, 1098 XG Amsterdam, The Netherlands)
,
Ubachs W.
(Advanced Research Center for Nanolithography (ARCNL), Science Park 110, 1098 XG Amsterdam, The Netherlands)
,
Hoekstra R.
(Advanced Research Center for Nanolithography (ARCNL), Science Park 110, 1098 XG Amsterdam, The Netherlands)
,
Versolato O. O.
(Advanced Research Center for Nanolithography (ARCNL), Science Park 110, 1098 XG Amsterdam, The Netherlands)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 121 号： 10 ページ： 103301-103301-8 発行年： 2017年03月14日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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