文献
J-GLOBAL ID:201702285307267658
整理番号:17A1258096
三重モジュールとペンタモジュール冗長性のための誤差インジェクション分析【Powered by NICT】
Error injection analysis for triple modular and penta-modular redundancies
著者 (2件):
Terada Ryo
(Electrical and Electronic Engineering, Shizuoka University, 3-5-1 Johoku, Hamamatsu, Shizuoka 432-8561, Japan)
,
Watanabe Minoru
(Electrical and Electronic Engineering, Shizuoka University, 3-5-1 Johoku, Hamamatsu, Shizuoka 432-8561, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ISNE
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)